零件/ XR2100, XP750
X-Cite光功率测量系统
X-Cite® 光功率测量系统设计用于测量样本层面的光功率，它以瓦特为单位显示数据，可在整个研究实验过程中提供一致且可重复的照明，还可协助完成设备的安装和故障排除。该系统包括X-Cite XP750传感器，外形小巧纤薄，专门设计用于显微镜载物台。它具有多种功能，可以对X-Cite显微镜照明器或任何其他落射荧光光源的输出功率进行测量。通过将较宽的动态范围配置到紧凑型传感器中，我们比以往任何时候都更易获得此关键信息。
宽动态范围
X-Cite XP750经过校准，可用于320 nm至750 nm之间的任何波长，兼容全系列滤光片。对5 µW至500 mW的光功率具有敏感性，因而对于采用高低强度照明的设备均适用，适合用于标准、共聚焦、DSU及其他显微镜配置。
功能多样，使用方便
X-Cite XP750测量的是显微镜载物台上的光线，因此它可对任何落射荧光显微镜光源进行测量，包括HBO/汞、金属卤化物灯、氙灯、激光器和LED等。X-Cite XR2100有数百种波长可选，允许您定义“最喜欢的波长”，对应您常用的光源和滤光片。
可重复性测量结果
X-Cite以绝对单位（瓦）测量和记录输出功率，可保证实验中使用的照明水平总是可以重复的，而无需顾及光源、光导管、滤光片和其他光学元件如何变化。这种独特的功能对于减少实验后图像处理时间、进行准确定量的图像比较以及编制完整的实验文档至关重要。
| 技术规格 | X-Cite XR2100 | X-Cite XP750 |
| 包括 | 手持式功率计、3 mm光导适配器、软件CD、电缆和用户手册 | 物镜平面功率传感器，带适配X-Cite XR2100的电缆/接头 |
| 功率范围 | 50 mW-10 W | 5 µW-500 mW |
| 测量分辨率 | 0.1 mW-0.01 W | 0.01 µW-1 mW |
| 公差*** | ±5% | ±6% |
| 响应时间 | 1 s | 600 ms（初次响应），3 s（以确保稳定读数） |
| 校准 | 可溯源至NIST* | 可溯源至NRC** |
| 波长范围 | 340 nm-675 nm | 320 nm-750 nm |
| 灯型/光源兼容性 | X-Cite 200DC、X-Cite exacte和X-Cite 120系列（使用3 mm光导输入端口） | X-Cite 200DC、X-Cite exacte、X-Cite 120系列、汞/HBO、金属卤化物、氙、LED和激光 |
| 物镜兼容性 | 不适用 | 4X-63X；空气耦合，FOV直径小于10 mm |
| 显示器 | 3数字液晶，背光 | 经X-Cite XR2100提供 |
| 波长选择 | 不适用 | 使用X-Cite XR 1或PC界面上的向上/向下按钮实现2100nm递增 |
| 数据容量 | 可将100条以上读数记录存储在手持式装置中或直接输入PC界面；以电子数据表兼容格式导出 | 经X-Cite XR2100提供 |
| PC控件 | 查看/更改设置，下载/导出存储的数据 | 查看/更改设置，定义最佳波长，记录多个物镜/滤光片/强度设置的数据，下载/导出存储的数据 |
| 指令协议 | 经USB虚拟COM端口传输RS232 | 经X-Cite XR2100提供 |
| 电源 | 2 x 3.6 V锂电池 | 经X-Cite XR2100提供 |
| 重量 | 1 lb（450 g） | 2.9 oz（82 g） |
| 尺寸（无盖） | 7.5" x 4.5" x 2"（19 cm x 11.5 cm x 5 cm） | 3" x 1" x 0.35"（75 mm x 2 5 mm x 9 mm） |
| 全球认证 | CE认证、符合ROHS标准 | 经X-Cite XR2100提供 |
| 质保期 | 1年 | 1年 |
| 专利 | X-Cite光功率测量系统采用受下列专利保护的技术：US#6,437,861和US#7,335,901 | |
*NIST：美国国家标准技术研究所
**NRC：美国国家科学研究委员会
***建议每十二个月校准一次X-Cite XR2100和X-Cite XP750。请联系我们以了解更多信息。
| 技术规格 | X-Cite XR2100 | X-Cite XP750 |
| 包括 | 手持式功率计、3 mm光导适配器、软件CD、电缆和用户手册 | 物镜平面功率传感器，带适配X-Cite XR2100的电缆/接头 |
| 功率范围 | 50 mW-10 W | 5 µW-500 mW |
| 测量分辨率 | 0.1 mW-0.01 W | 0.01 µW-1 mW |
| 公差*** | ±5% | ±6% |
| 响应时间 | 1 s | 600 ms（初次响应），3 s（以确保稳定读数） |
| 校准 | 可溯源至NIST* | 可溯源至NRC** |
| 波长范围 | 340 nm-675 nm | 320 nm-750 nm |
| 灯型/光源兼容性 | X-Cite 200DC、X-Cite exacte和X-Cite 120系列（使用3 mm光导输入端口） | X-Cite 200DC、X-Cite exacte、X-Cite 120系列、汞/HBO、金属卤化物、氙、LED和激光 |
| 物镜兼容性 | 不适用 | 4X-63X；空气耦合，FOV直径小于10 mm |
| 显示器 | 3数字液晶，背光 | 经X-Cite XR2100提供 |
| 波长选择 | 不适用 | 使用X-Cite XR 1或PC界面上的向上/向下按钮实现2100nm递增 |
| 数据容量 | 可将100条以上读数记录存储在手持式装置中或直接输入PC界面；以电子数据表兼容格式导出 | 经X-Cite XR2100提供 |
| PC控件 | 查看/更改设置，下载/导出存储的数据 | 查看/更改设置，定义最佳波长，记录多个物镜/滤光片/强度设置的数据，下载/导出存储的数据 |
| 指令协议 | 经USB虚拟COM端口传输RS232 | 经X-Cite XR2100提供 |
| 电源 | 2 x 3.6 V锂电池 | 经X-Cite XR2100提供 |
| 重量 | 1 lb（450 g） | 2.9 oz（82 g） |
| 尺寸（无盖） | 7.5" x 4.5" x 2"（19 cm x 11.5 cm x 5 cm） | 3" x 1" x 0.35"（75 mm x 2 5 mm x 9 mm） |
| 全球认证 | CE认证、符合ROHS标准 | 经X-Cite XR2100提供 |
| 质保期 | 1年 | 1年 |
| 专利 | X-Cite光功率测量系统采用受下列专利保护的技术：US#6,437,861和US#7,335,901 | |
*NIST：美国国家标准技术研究所
**NRC：美国国家科学研究委员会
***建议每十二个月校准一次X-Cite XR2100和X-Cite XP750。请联系我们以了解更多信息。